中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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电子与封装 ›› 2020, Vol. 20 ›› Issue (8): 080201 . doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.0803

• 封装、组装与测试 • 上一篇    下一篇

SOP封装集成电路去金效率提升方案

向洲林   

  1. 中国西南电子技术研究所,成都 610036
  • 接受日期:2020-03-28 出版日期:2020-08-25 发布日期:2020-04-27
  • 作者简介:向洲林(1980—),女,四川苍溪人,曾获2019年 “成都工匠”称号,主要从事航空航天电子元器件的装配工作。

SOP Package IC De-Golding Efficiency Improvement Scheme

XIANG Zhoulin   

  1. Southwest China Institute of Electronic Technology, Chengdu 610036, China
  • Accepted:2020-03-28 Online:2020-08-25 Published:2020-04-27

摘要: 从提高效率,保证质量出发,提出了提高SOP封装的集成电路去金效率的解决方案。介绍了方案的具体实施方法,给出了结构件尺寸设计的思路。在生产实践中对这种方案进行了验证,和其他的几种方法加以比较,证明其可靠性及实用性。

关键词: 去金, 搪锡, 镀金层, 焊接

Abstract: In order to improve the efficiency and guarantee the quality, this paper puts forward a solution to improve the efficiency of IC De-Golding in SOP package. The specific implementation method of the scheme is introduced, and the idea of dimension design of structural parts is given. The scheme is verified in production practice and compared with other methods to prove its reliability and practicability.

Key words: de-golding, tin-coating, gold-plated, soldering

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