GaAs多功能MMIC在片测试系统设计

doi:10.16257/j.cnki.1681-1070.2021.0314

电子与封装 ›› 2021, Vol. 21 ›› Issue (3): 030204 . doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2021.0314

GaAs多功能MMIC在片测试系统设计

陈金远;焦芳;王逸铭;林罡

南京电子器件研究所，南京　210016

收稿日期:2020-08-20 出版日期:2021-03-23 发布日期:2020-11-07
作者简介:陈金远（1981—），男，江苏如东人，学士，从事单片电路在片测试技术研究。

Design of GaAsMulti-function MMIC On-wafer Test System

CHEN Jinyuan, JIAO Fang, WANG Yiming, LIN Gang

Nanjing Electronic Device Institute, Nanjing 210016, China

Received:2020-08-20 Online:2021-03-23 Published:2020-11-07

摘要/Abstract

摘要： GaAs多功能MMIC集成度高，数模混合驱动及测试需求考验测试平台的兼容性和稳定性。采用PXI平台模块化测试仪器结合矢量网络分析仪设计多功能MMIC在片测试系统，满足GaAs多功能MMIC的数模混合信号驱动、检测需求，保证测试稳定性。

关键词: 多功能MMIC, PXI, 逻辑电路, 模块化仪器

Abstract: GaAs multi-function MMIC is highly integrated. The test compatibility and stability of the test platform are required by mixed digital and analog drive and test requirements. The multi-function MMIC test system is designed by using PXI platform modular test instrument and vector network analyzer to meet the demand of mixed signal driving and detection of multi-function MMIC, ensure the stability of test.

Key words: Multi-functionMMIC（MFC）, PXI, logiccircuit, modulartestinstrument

中图分类号:

TN45
TN407

陈金远;焦芳;王逸铭;林罡. GaAs多功能MMIC在片测试系统设计[J]. 电子与封装, 2021, 21(3): 030204 .

CHEN Jinyuan, JIAO Fang, WANG Yiming, LIN Gang. Design of GaAsMulti-function MMIC On-wafer Test System[J]. Electronics & Packaging, 2021, 21(3): 030204 .

中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

GaAs多功能MMIC在片测试系统设计

Design of GaAsMulti-function MMIC On-wafer Test System

PDF

可视化

摘要/Abstract

引用本文

使用本文

参考文献

相关文章 1

编辑推荐

Metrics

本文评价