多电源域集成电路静电放电试验方法研究

doi:10.16257/j.cnki.1681-1070.2017.0033

电子与封装 ›› 2017, Vol. 17 ›› Issue (3): 26 -28. doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2017.0033

多电源域集成电路静电放电试验方法研究

姜汝栋¹，蔡依林²，李小亮¹

1.中国电子科技集团公司第 58 研究所，江苏无锡 214035; 2.中国电子技术标准化研究院，北京 100007

收稿日期:2016-07-27 出版日期:2017-03-20 发布日期:2017-03-20
作者简介:姜汝栋（1989—），男，江苏常州人，2011 年毕业于南京农业大学，主要从事集成电路可靠性分析工作；蔡依林（1979—），男，四川射洪人，2002 年毕业于成都电子科技大学，主要从事电子元器件可靠性检测工作；李小亮（1990—），男，江苏泰州人，2013 年毕业于江南大学，主要从事集成电路可靠性分析与设计工作。

Research of Electro-Static Discharge Test for Multip le Power Domains Circuits

JIANG Rudong¹, CAI Yilin², Li Xiaoliang¹

1.China Electronics Technology Group Corporation No.58 Research Institute,Wuxi 214035,China；2.China Electronics Standardization Institute,Beijing 100007,China

Received:2016-07-27 Online:2017-03-20 Published:2017-03-20

摘要/Abstract

摘要： 随着集成电路技术的发展，电路从原来的单一电源域向多电源域进行转移，而其中的静电放电（ESD）试验是考核集成电路性能的一项重要指标，如何有效选择合适的试验方法变得越来越重要。结合国内外相关静电放电试验标准，研究标准之间存在的相同和不同的地方。结合实际情况，探究多电源域集成电路静电放电试验方法的选择。

关键词: 静电放电, 试验方法, 多电源域

Abstract: Along with the development of technology of integrated circuits, circuit has evolved from single power domain to multiple ones. Electro-Static discharge (ESD) has become an important index assessing the IC performance. Effective choice of test methods has been increasingly important. The article explores the choice of test methods for multi-domain ICs by comparing domestic and international ESD standards.

Key words: ESD, test method, multiple power domains

中图分类号:

TN406

姜汝栋¹，蔡依林²，李小亮¹. 多电源域集成电路静电放电试验方法研究[J]. 电子与封装, 2017, 17(3): 26 -28.

JIANG Rudong¹, CAI Yilin², Li Xiaoliang¹. Research of Electro-Static Discharge Test for Multip le Power Domains Circuits[J]. Electronics & Packaging, 2017, 17(3): 26 -28.

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[3]	刘士全,徐超,秦晨飞,王健军. 一种新型CMOS器件长期贮存寿命评价试验方法[J]. 电子与封装, 2016, 16(6): 36-38.

中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

多电源域集成电路静电放电试验方法研究

Research of Electro-Static Discharge Test for Multip le Power Domains Circuits

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