基于ATE的USB PD快充协议芯片晶圆测试

中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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基于ATE的USB PD快充协议芯片晶圆测试

唐彩彬

USB PDFast ChargingProtocol Chip Test Based on ATE

TANG Caibin

电子与封装 . 2022, (3): 30203 - . DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0306