4H-SiC功率MOSFET可靠性研究进展<sup>*</sup>

中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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4H-SiC功率MOSFET可靠性研究进展^*

白志强, 张玉明, 汤晓燕, 沈应喆, 徐会源

Research Progress on Reliability of 4H-SiC Power MOSFET

BAI Zhiqiang, ZHANG Yuming, TANG Xiaoyan, SHEN Yingzhe, XU Huiyuan

电子与封装 . 2022, (4): 40101 - . DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0412