用于FPGA的高效可测性设计

中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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用于FPGA的高效可测性设计

陈波寅, 胡晓琛, 张智, 赵赛

Efficient Testability Designfor FPGA

CHEN Boyin, HU Xiaochen, ZHANG Zhi, ZHAO Sai

电子与封装 . 2022, (9): 90304 - . DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0908