中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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基于40nm CMOS工艺的全数字锁相环的I2C接口设计
李幸和;唐路;万世松
I2C Interface Design of All-Digital Phase-Locked Loop Based on 40nm CMOS Process
LI Xinghe,TANG Lu, WAN Shisong
电子与封装 . 2023, (6): 60301 - .  DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2023.0058