一种用于CPLD擦写寿命验证的设计

中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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一种用于CPLD擦写寿命验证的设计

顾小明,肖培磊,唐勇

Design for CPLD Program/Erase Cycles Verification

GU Xiaoming，XIAO Peilei，TANG Yong

电子与封装 . 2023, (9): 90203 - . DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2023.0116