中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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用于GaN半桥驱动的高可靠欠压锁定电路*
李亮,周德金,黄伟,陈珍海
High-Reliable Undervoltage Lockout Circuit for GaN Half-Bridge Driver
LI Liang, ZHOU Dejin, HUANG Wei, CHEN Zhenhai
电子与封装 . 2023, (9): 90302 - .  DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2023.0126