基于自动测试系统实现系统级芯片异步信号测试

中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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基于自动测试系统实现系统级芯片异步信号测试

石君, 张谦, 裴丹丹

Asynchronous Signal Test of System on Chip Based on Auto-Test Equipment

SHI Jun, ZHANG Qian, PEI Dandan

电子与封装 . 2020, (2): 20204 - . DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.0206