中国半导体行业协会封装分会会刊
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DDR3芯片基于XR8238A全地址全功能老炼过程测试
李小亮
Research of DDR3 Chip Full-Address and Global Function Burn in Test Based on XR8238A
LI Xiaoliang
电子与封装 . 2020, (
2
): 20401 - . DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.0212