测试成本的挑战及对策

中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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测试成本的挑战及对策

章慧彬

Challenge and Countermeasure of Test Cost

ZHANG Huibin

电子与封装 . 2018, (5): 5 -7 . DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2018.0048