中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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漏电流的伏安特征曲线在分立器件失效分析中的应用
陈 松,王友彬
Application of the Characteristic Curve of Leakage Current in the Failure Analysis of Discrete Devices
CHEN Song,WANG Youbin
电子与封装 . 2018, (11): 44 -47 .  DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2018.0127