大规模集成电路测试程序开发技术及流程应用

中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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大规模集成电路测试程序开发技术及流程应用

章慧彬，朱江

Development of Test Program for Large Scale Integrated Circuits

ZHANG Huibin,ZHU Jiang

电子与封装 . 2017, (6): 10 -15 . DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2017.0067