高压SOI pLDMOS器件电离辐射总剂量效应研究

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马阔,乔明,周锌,王卓

Study on Total Dose Effect of Ionizing Radiation of High-voltage SOI pLDMOS Devices

MA Kuo, QIAO Ming, ZHOU Xin, WANG Zhuo

电子与封装 . 2020, (6): 60403 - . DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.0609