中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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一种利用迭代法实现的熔丝修调方案
吴熙文,顾卫民
An Iteration-based Fuse Trimming Test Method
WU Xiwen, GU Weimin
电子与封装 . 2016, (12): 23 -25 .  DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2016.0139