声扫检查中分层假象的分析与识别

中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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声扫检查中分层假象的分析与识别

田健, 邓昊, 王伯淳, 陆洋

Analysis and Recognition of Delamination-illusion in SAM

电子与封装 . 0, (): 0 -0 . DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2020. 1109