集成电路测试中测试Map的“重生”技术

中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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集成电路测试中测试Map的“重生”技术

张亚军;陆坚

"Rebirth"Technology of Test Map in Integrated Circuit Test

ZHANG Yajun, LU Jian

电子与封装 . 2021, (6): 60202 - . DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2021.0607