基于数据分析科学降低芯片测试成本<sup>*</sup>

中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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基于数据分析科学降低芯片测试成本^*

王彬, 刘伟, 周成

Reduce theCost of Chip Testing Based on Data Analysis

WANG Bin, LIU Wei, ZHOU Cheng

电子与封装 . 2021, (12): 120106 . DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2021.1211