测试原语：存储器故障最小检测序列的统一特征

中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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测试原语：存储器故障最小检测序列的统一特征

肖寅东,王恩笙,路杉杉,戴志坚

Test Primitive: Unified Features of Minimal Test Sequence for Memory Faults

XIAO Yindong, WANG Ensheng, LU Shanshan, DAI Zhijian

电子与封装 . 2023, (12): 120101 . DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2023.0169