基于内建自测试电路的NAND Flash测试方法

中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

导航

基于内建自测试电路的NAND Flash测试方法

解维坤, 白月芃, 季伟伟, 王厚军

NAND Flash Test Method Based on Built-In Self-Test Circuit

XIE Weikun, BAI Yuepeng, JI Weiwei, WANG Houjun

电子与封装 . 2023, (11): 110103 . DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2023.0168