中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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内嵌Flash存储器可靠性评估方法的分析及应用
周焕富,刘伟,周成
Analysis and Application of Reliability Evaluation Method for Embedded Flash Memory
ZHOU Huanfu, LIU Wei, ZHOU Cheng
电子与封装 . 2024, (7): 70207 .  DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2024.0083