中国半导体行业协会封装分会会刊
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STT-MRAM存储器数据保持试验方法研究
杨霄垒，申浩
Research on Data Retention Testing Method for STT-MRAM Memory
YANG Xiaolei, SHEN Hao
电子与封装 . 2024, (
7
): 70402 . DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2024.0069
