中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

导航
纳米级数字集成电路老化效应分析与老化监测技术综述*
赵天津;黄乐天;谢暄;魏敬和
NanometerDigital Integrated Circuit Aging Effect Analysis and Aging MonitoringTechnology Review
ZHAO Tianjin, HUANG Letian, XIE Xuan,WEI Jinghe
电子与封装 . 2020, (10): 100101 .  DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.1005