中国半导体行业协会封装分会会刊

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电子与封装 ›› 2019, Vol. 19 ›› Issue (2): 09 -12. doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2019.0014

• 封装、组装与测试 • 上一篇    下一篇

小功率DC-DC模块的通用测试方法研究

彭力   

  1. 中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏 无锡 214035
  • 收稿日期:2018-10-29 出版日期:2019-02-20 发布日期:2019-02-20
  • 作者简介:彭 力 ( 1990—), 男, 江苏徐州人,硕士研究生, 2017 年毕业于南京理工大学电子工程与光电技术学院, 现在中国电子科技集团第五十八研究所从事集成电路测试研发工作。

Research on General Testing Method of Low Power DC-DC Module

PENG Li   

  1. China Electronic Technology Group Corporation No.58 Research Institute , Wuxi 214035, China
  • Received:2018-10-29 Online:2019-02-20 Published:2019-02-20

摘要: 介绍了一种通用的小功率DC-DC模块的测试方法。基于Chroma 8000测试平台,在大功率DC-DC模块测试方法的基础上,提供了一种简便的小功率DC-DC模块的通用测试方法。该方法极大地提升了新品小功率DC-DC模块测试的开发速度。

关键词: Chroma 8000, 小功率DC-DC模块, 通用测试方法

Abstract: This paper introduces a general testing method of the low power DC-DC module. Based on the Chroma 8000 test platform, based on high power DC-DC module testing method, this paper provides a general method for testing low power DC-DC module. Greatly enhance the development time of new low power DC-DC module testing.

Key words: Chroma 8000, low power DC-DC module, general testing method

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