电子与封装 ›› 2019, Vol. 19 ›› Issue (5): 08 -11. doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2019.0503
邓长开，唐明津，胡义平
DENG Changkai,TANG Mingching,HU Yiping
摘要： 随着5G 通信时代的来临，在半导体射频芯片测试中，越来越多新型号的射频芯片需进行高频率（GHz 级别） 射频测试，以前的低频（MHz 级别） 射频测试平台已不能满足需求，亟需设计新的测控平台。简单介绍安捷伦E5072A 矢量网络分析仪、E5270B 精密型IV 分析仪以及N5181B 射频模拟信号发生器，同时介绍射频测试主要参数S 参数、P1dB 和IP3。通过硬件集成与VB 编程成功搭建新的高频射频测控平台，并分享关键技术与核心指令代码。经过大量的测试验收，新平台不仅满足测试需求，同时也为未来更高频率的芯片射频测控打下技术基础。
中图分类号:
