电子与封装 ›› 2023, Vol. 23 ›› Issue (7): 070601 . doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2023.0131
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蔡念;陈凯琼;黄林昕;夏皓;周帅
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蔡念, 陈凯琼, 黄林昕, 夏皓, 周帅. 基于MST-GAN的多尺度IC金属封装表面缺陷检测[J]. 电子与封装, 2023, 23(7): 070601 .
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