中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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电子与封装 ›› 2019, Vol. 19 ›› Issue (10): 17 -19. doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2019.1005

• 电路设计 • 上一篇    下一篇

一种高效测试交流参数的方法研究

赵 桦,章慧彬   

  1. 中科芯集成电路有限公司,江苏 无锡 214072
  • 收稿日期:2019-04-02 出版日期:2019-10-20 发布日期:2020-01-08
  • 作者简介:赵桦(1979—),江西南昌人,硕士,测试工程师,2003年毕业于西南交通大学测试计量及仪器仪表专业,从事集成电路测试工作。

Research on a Way of Testing AC Parameter Efficiently

ZHAO Hua, ZHANG Huibin   

  1. China Key System & Integrated Circuit Co., Ltd., Wuxi 214072, China
  • Received:2019-04-02 Online:2019-10-20 Published:2020-01-08

摘要: 随着科学技术的快速发展,集成电路都朝着高速、高精度方向发展,对保障电路质量的电路测试的速度和精度也提出了新的要求,尤其在交流参数测试方面要求也越来越高。为了实现比传统的测试方式更加快速准确的交流参数测试,利用V93000集成电路测试系统,通过对Smart Scale卡上pin脚通道的时间测试单元(TMU)进行编程控制,即可达到目标。

关键词: 测试技术, 测试机台, 时间测试单元

Abstract: With the development of science and technology, IC is more and more complicate. This asks IC testing becoming more quickly and accurately, especially in AC testing. V93000 automatic test equipment (ATE) is a scalable platform. Each pin in smart scale of V93000 has time measure unit (TMU). It can test AC parameter quickly and conveniently comparing to other testing method with programming.

Key words: testing technology, automatic test equipment, time measure unit

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