MOS栅控晶闸管在超高di/dt应用中的失效分析

中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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MOS栅控晶闸管在超高di/dt应用中的失效分析

刘亚伟，陈万军

Failure Analysis of MOS-Controlled Thyristor in Ultra-high Di/Dt Application

LIU Yawei, CHEN Wanjun

电子与封装 . 2018, (7): 45 -48 . DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2018.0081