一种MCU可测性优化设计

中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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一种MCU可测性优化设计

范学仕，刘云晶

The Optimal Design for Testability on MCU

FAN Xueshi, LIU Yunjing

电子与封装 . 2018, (8): 28 -32 . DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2018.0088