功率VDMOS(带氮化硅结构)的UIS失效改善

中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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功率VDMOS(带氮化硅结构)的UIS失效改善

冯　超，王振宇，郝志杰

UIS Failure Improvement of Power VDMOS (with SiN)

FENG Chao, WANG Zhenyu, HAO Zhijie

电子与封装 . 2018, (8): 44 -48 . DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2018.0092