中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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基于ATE的电源芯片Multi-Site测试设计与实现
唐彩彬
A Design and Implementation Scheme of Multi-Site Test for ATE-based Power Chip
TANG Caibin
电子与封装 . 2016, (11): 14 -17 .  DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2016.0125