中国半导体行业协会封装分会会刊
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商用0.18 μm CMOS工艺抗总剂量辐射性能研究
寇春梅，谢儒彬，洪根深，吴建伟
Study of Commercial 0.18μm CMOS Total Ionizing Dose Effects
KOU Chunmei, XIE Rubin, HONG Genshen, WU Jianwei
电子与封装 . 2016, (
4
): 40 -44 . DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2016.0048
