低噪声放大器的自动测试开发

doi:10.16257/j.cnki.1681-1070.2016.0123

电子与封装 ›› 2016, Vol. 16 ›› Issue (11): 7 -9. doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2016.0123

低噪声放大器的自动测试开发

张凯虹，苏　扬，武乾文

中国电子科技集团第58研究所，江苏无锡 214035

出版日期:2016-11-20 发布日期:2016-11-20
作者简介:张凯虹（1982—），女，山西文水人，硕士研究生毕业，工程师，研究方向为大规模集成电路的的测试技术。

An Automatic Test Method for LNA

ZHANG Kaihong, SU Yang, WU Qianwen

China Electronics Technology Group Corporation No.58 Research Institute, Wuxi 214035,China

Online:2016-11-20 Published:2016-11-20

摘要/Abstract

摘要： 如何快速又精确地输出低噪声放大器的测试值并使测试值符合测试规范是研究重点。基于多个测试仪器对低噪声放大器的特性参数进行测试开发。矢量网络分析仪完成S参数的测试,噪声测试仪完成噪声系数测试,信号源与频谱仪配合完成三阶交调交叉点测试,信号源与功率计配合完成1 d B增益压缩点测试。通过GPIB或TCP/IP实现仪器通信,使用计算机编程对整个流程实现自动控制,最后将测试结果返回计算机并显示,测试结果符合规范。实验证明,在实际应用中该方法快速精确并具有很好的通用性,可拓展到其他芯片的测试。

关键词: 低噪声放大器, S参数, 噪声系数

Abstract: The paper focuses on fast and accurate LNA output method that meets required specifications. The paper analyzes the LNA parameters derived from several test instruments. The vector network analyzer tests S parameters; the noise test device tests noise factor; signal generator and spectrum instrument performs IP3 test; signal generator and power meter completes 1dB gain compression point test. The whole process is automatic controlled by computer while the instrument communications is via GPIB or TCP/IP. The measurement results displayed in the end meet the specifications. The experiment demonstrates that the automatic test method is fast and precise and application to other IC tests can be expected.

Key words: low noise RF amplifier (LNA), S parameters, noise factor

中图分类号:

TN722.3

张凯虹，苏　扬，武乾文. 低噪声放大器的自动测试开发[J]. 电子与封装, 2016, 16(11): 7 -9.

ZHANG Kaihong, SU Yang, WU Qianwen. An Automatic Test Method for LNA[J]. Electronics & Packaging, 2016, 16(11): 7 -9.

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中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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An Automatic Test Method for LNA

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