摘要: 随着半导体工艺与集成电路技术的快速发展,微处理器的集成度越来越高,在设计中开发比较大的应用程序时,强劲的调试手段是非常重要的。当 bug 复杂到无法分析时,只能用调试来追踪它,集成片上调试功能更显得尤为重要。基于C8051 IP设计了一个片上调试单元,将调试功能集成到单片机内部。通过配置不同的操作指令,该片上调试单元可实现断点指令、地址断点、停止及单步执行程序、数据观察点、运行到光标处等调试功能。
中图分类号:
俞小平,唐映强,李世伟. 基于C8051的片上调试单元设计[J]. 电子与封装, 2017, 17(3):
19 -21.
YU Xiaoping, TANG Yingqiang, LI Shiwei. Design of On-chip Debug Unit Based on C8051[J]. Electronics & Packaging, 2017, 17(3):
19 -21.