摘要: 针对工业控制、航空航天等多种复杂的电磁辐射环境中对大规模FPGA器件及高速数据传输的迫切需求,设计了一种可应用于抗辐照FPGA的多标准I/O电路。该I/O电路中输入/输出寄存器均采用三模冗余(TMR)技术进行了抗辐照加固,能够支持14种电平标准,实现宽电压范围调节。该抗辐照FPGA抗单粒子翻转(SEU)大于37 MeV?cm2/mg。仿真及测试结果表明,该I/O电路满足设计要求。
中图分类号:
王雪萍,曹 靓. 应用于抗辐照FPGA的多标准I/O电路设计[J]. 电子与封装, 2019, 19(10):
20 -25.
WANG Xueping, CAO Liang. Design of a Multi-Standard I/O Circuit Applied in Radiation-Tolerant FPGA[J]. Electronics & Packaging, 2019, 19(10):
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