摘要: 随着多数产品更高的I/O数的需求,微铜柱凸点已经成为倒装芯片领域的主流,而热压倒装焊则是目前使用最多的键合方式之一。针对一款Cu-Sn-Cu倒装芯片,基于日本Athlete公司的CB-600低荷重半自动倒装键合机,以研究芯片键合质量为目标,完成了不同参数条件下的芯片键合样品,并通过光学显微镜和拉剪力测试机对样品的键合质量进行了比较,得到了键合参数对键合质量的影响规律。
中图分类号:
张潇睿. Cu-Sn-Cu互连微凸点热压键合研究[J]. 电子与封装, 2021, 21(9):
090203 .
ZHANG Xiaorui. Study ofCu-Sn-Cu Interconnection Using Thermal Compression Flip Chip Bonding[J]. Electronics & Packaging, 2021, 21(9):
090203 .