中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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电子与封装 ›› 2019, Vol. 19 ›› Issue (6): 09 -12. doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2019.0603

• 封装、组装与测试 • 上一篇    下一篇

一种A/D 测试平台的设计

刘明峰,辛达,王炯异   

  1. 无锡中微爱芯电子有限公司,江苏 无锡 214072
  • 收稿日期:2018-10-28 出版日期:2019-06-19 发布日期:2019-06-19
  • 作者简介:刘明峰(1976—),男,江苏仪征人,硕士,高级工程师,1999 年毕业于南通工学院电气技术专业,2012 年江苏大学硕士研究生毕业,现任无锡中微爱芯电子有限公司总经理,历年来负责和主持完成了MCU、LCD 系列电路、内置肖特基的高速接口电路、集团内数字电话专用集成电路等的开发工作。

A Design for A/D Test Board

LIU Mingfeng,XIN Da,WANG Jiongyi   

  1. Wuxi I-CORE Electronics Co.,Ltd.,Wuxi 214072,China
  • Received:2018-10-28 Online:2019-06-19 Published:2019-06-19

摘要: 具体解释了模数转换器的静态参数的定义,包括积分非线性、差分非线性等。阐述了码密度测试原理,在此基础上,设计了一套测试模数转换器静态的测试台方案。

关键词: 模数转换器, 码密度

Abstract: The definitions of the static parameters of A/D converters were interpreted,including integral non-linearity,difference non-linearity,etc.The testing theory which includes code density was set forth.A set of scheme to test the static performance of A/D converters was presented.

Key words: A/D converters, code density

中图分类号: