电子与封装 ›› 2018, Vol. 18 ›› Issue (8): 13 -16. doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2018.0085
陈科全,唐 鹤,郑炯卫,杨 磊,甄少伟,张 波
CHEN Kequan, TANG He, ZHENG Jiongwei, YANG Lei, ZHEN Shaowei, ZHANG Bo
摘要: 介绍的单斜ADC(Analog-to-Digital Converter,ADC)应用于三维成像激光焦平面读出电路,将读出电路检测到的电压模拟信号转换为数字信号,便于后续的信号处理。根据焦平面阵列规格、对信号精度和速度的需求,选择采用单斜结构ADC,其中斜坡发生器和计数器两个模块可以所有列共用,每列只需一个比较器和寄存器。斜坡发生器采用分段电容阵列结构,大大减小了芯片面积。由于ADC精度较高,也对比较器进行了失调校准,同时提出了一种新结构,使得比较器输入范围扩大至轨到轨。提出的ADC基于0.18μm CMOS工艺进行设计,输入电压量化范围为1.1 V,量化精度为12位,转换速度为5 kHz。
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