集成电路测试大会 (ICTC) 是一年一度的学术盛会，旨在推动集成电路测试核心技术的研究和产业化应用，同时搭建一个产、学、研、用的交流平台。会议吸引了来自世界各地的数百位专家和工程技术人员，大家齐聚一堂，共同致力于促进国内集成电路测试技术行业的发展。ICTC 2024将于2024年8月23—25日在广东省深圳市举办。在此，我们诚挚地邀请您，踊跃投稿并出席此届会议，与世界各地的同仁就集成电路测试技术研究、产业发展和人才培养等展开研讨和交流。
组织单位
1. 主办单位：
中国电子仪器行业协会
中国电子学会电子测量与仪器分会
集成电路与微系统全国重点实验室
广东省仪器仪表行业协会
2. 承办单位：
中国电子科技集团公司第五十八研究所
西安太乙电子有限公司
深圳速跃芯仪科技有限公司
3. 协办媒体
《电子与封装》，《Applied Sciences》(SCI 期刊，影响因子 2.7)
AI芯片测试技术与智能测试技术
可靠性与失效分析
可测性设计技术与测试标准
测试开发技术与测试设备设计技术
1.论文语言：中英文
2.请使用《电子与封装》论文模版撰写
3.投稿邮箱：ictc2024@126.com
4.文章将送至本会议学术委员会审稿，出版会议论文集，部分优秀论文推荐至《电子与封装》正式发表
5.邀请一名作者参会并张贴论文交流研讨，邀请部分优秀论文作者做专题报告（参会作者免会议费）
截稿日期：2024年7月20日 论文集出版日期：2024年8月18日
有理论与技术深度的文章欢迎投《Applied Science》电子系统与
器件高级测试诊断技术专刊，投稿要求可扫码获取：
