中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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电子与封装 ›› 2016, Vol. 16 ›› Issue (4): 9 -12. doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2016.0041

• 封装、组装与测试 • 上一篇    下一篇

基于测试系统控制示波器实现模拟信号测试方法

杜元勋   

  1. 中国电子科技集团公司第58研究所,江苏 无锡 214072
  • 收稿日期:2015-12-15 出版日期:2016-04-20 发布日期:2016-04-20
  • 作者简介:杜元勋(1978—),男,江苏新沂人,工程师,现在中国电子科技集团公司第58研究所从事集成电路测试工作。

Test Method of Analog Signals Based on TR6800 Controls OSC

DU Yuanxun   

  1. China Electronics Technology Group Corporation No.58 Research Institute, Wuxi 214072, China
  • Received:2015-12-15 Online:2016-04-20 Published:2016-04-20

摘要: 现在的集成电路测试系统虽然具备较高的技术指标,但仍然有一些数字、模拟和数模混合电路的参数指标超出其测试能力范围。在新品验证阶段要实现功能与参数的全覆盖测试,难度大而且成本高。通过测试系统与仪器仪表相结合的方式来实现功能与参数的测试验证是一种比较好的解决方法。主要介绍如何使用TR6800测试系统通过GPIB接口控制示波器来实现VCO器件参数测试的方法。

关键词: 测试系统, 示波器, GPIB接口

Abstract: This days, most of test systems have highly performance, but many specs of the digital or analog IC beyond the ability of the test systems. It's very difficult and expensive to get fully tests for functions and parameters during the stage of a new production. A better method by using instruments connect with the test systems can solve the problems. The paper is mainly to introduce how to use the TR6800 test system controls the OSC with the GPIB interface to achieve testing parameters of VCO.

Key words: test system, oscilloscope, GPIB interface

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