摘要: 介绍了LDO(线性稳压器)的通用测试方法。基于长川CTA8280测试系统,通过对芯片CP(圆测试)要求进行分析,设计了某款LDO芯片的测试外围,实现了对该LDO芯片功能与性能的测试。该方案能够作为通用测试方法供LDO芯片测试设计参考。
中图分类号:
唐彩彬,张凯虹. LDO芯片CP通用测试方法研究[J]. 电子与封装, 2017, 17(11):
15 -18.
TANG Caibin,ZHANG Kaihong. Research on General CP Test Method of LDO Chip[J]. Electronics & Packaging, 2017, 17(11):
15 -18.