基于V93000 ATE的大电流测试方法研究

doi:10.16257/j.cnki.1681-1070.2017.0141

电子与封装 ›› 2017, Vol. 17 ›› Issue (12): 14 -17. doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2017.0141

基于V93000 ATE的大电流测试方法研究

赵桦，王建超

中国电子科技集团公司第五十八研究所，江苏无锡 214072

收稿日期:2017-07-31 出版日期:2017-12-20 发布日期:2017-12-20
作者简介:赵桦（1979—），江西南昌人，硕士学历，测试工程师，2003年毕业于西南交通大学测试计量及仪器仪表专业，现在中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心从事集成电路测试工作。

Research on Testing Large Current Based on the V93000 ATE

ZHAO Hua,WANG Jianchao

China Electronics Technology Group Corporation No.58 Research Institute,Wuxi 214072,China

Received:2017-07-31 Online:2017-12-20 Published:2017-12-20

摘要/Abstract

摘要： 在当今超大规模集成电路的设计中，特别是在系统芯片SOC设计中，大电流电路已经非常普遍。实现对大电流电路的测试是集成电路测试中一个十分重要的内容。V93000集成电路测试系统是一款可扩展型平台，它集合了数字测试、模拟测试和射频测量等资源。通用性的电源供电资源可实现最大到100 A的电流测试。

关键词: 测试技术, ATE, 大电流

Abstract: With the development of science and technology,IC is widelyused in all varieties of products.In the design of super IC,especially in the design of SOC IC,it is normal to embed lots of large current IC.V93000 ATE is a scalable platform.It includes digital testing,analog testing and RF testing,etc.It can process wafer sort testing and finaltest of highly integrated IC.Varieties of supply resource can supply current up to 100A.

Key words: testing technology, ATE, large current

中图分类号:

TN407

赵桦，王建超. 基于V93000 ATE的大电流测试方法研究[J]. 电子与封装, 2017, 17(12): 14 -17.

ZHAO Hua,WANG Jianchao. Research on Testing Large Current Based on the V93000 ATE[J]. Electronics & Packaging, 2017, 17(12): 14 -17.

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中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

基于V93000 ATE的大电流测试方法研究

Research on Testing Large Current Based on the V93000 ATE

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