电子与封装 ›› 2021, Vol. 21 ›› Issue (8): 080302 . doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2021.0809
宋鹏汉1;张有润1,甄少伟1;周万礼1;汪煜2
SONG Penghan1, ZHANG Yourun1, ZHEN Shaowei1, ZHOU Wanli1, WANG Yu2
摘要: 设计了一种基于SOI材料制作的兼顾响应度和带宽的光电探测器,该光电探测器采用标准0.18 μm CMOS工艺,与现有工艺完全兼容,同时易于单片集成。利用Silvaco对该光电探测器进行了仿真,并对仿真结果进行分析。分析了光电探测器响应度和带宽的影响因素,通过控制吸收层厚度、离子注入深度等工艺步骤,结合器件特性设计优化深N阱结构,实现了高响应度高带宽的光电探测器。在5 V反向偏置的条件下,基于SOI的光电探测器在850 nm波长下实现了0.33 A/W的响应度,-3 dB带宽为120 MHz。研究结果对高速应用场景下的光电探测器的发展具有重要意义。
中图分类号: