基于ATE的USB PD快充协议芯片晶圆测试

doi:10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0306

电子与封装 ›› 2022, Vol. 22 ›› Issue (3): 030203 . doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0306

基于ATE的USB PD快充协议芯片晶圆测试

唐彩彬

中科芯集成电路有限公司，江苏无锡　214072

收稿日期:2021-05-31 出版日期:2022-03-24 发布日期:2021-10-01
作者简介:唐彩彬（1990—），男，江苏泰州人，硕士，现从事集成电路测试研发工作。

USB PDFast ChargingProtocol Chip Test Based on ATE

TANG Caibin

China Key System & Integrated Circuit Co., Ltd., Wuxi 214072, China

Received:2021-05-31 Online:2022-03-24 Published:2021-10-01

摘要/Abstract

摘要： 介绍了一款USB Power Delivery（USB PD）快充协议芯片的晶圆测试（Chip Probe，CP）方法。基于Chroma 3380P测试系统，通过对USB PD快充协议芯片测试要求进行分析，设计了双site并行测试外围电路，实现了对该USB PD快充协议芯片的主要功能与性能参数测试。该方案能够作为通用测试方法供USB PD快充协议芯片测试设计参考。

关键词: ATE, Chroma 3380P, USBPD, 晶圆测试

Abstract: Introduced a chip probe (CP) test method of a USB power delivery (USB PD) fast charging protocol chip. By analyzing the test requirements of USB PD fast charging protocol chip, designed 2 sites parallel test peripheral circuit, which was designed based on the Chroma 3380P test system. The design was able to realize testing the main functions and performance parameters of the USB PD fast charging protocol chip. This scheme can be used as a general test method for reference of USB PD fast charging protocol chip.

Key words: ATE, Chroma3380P, USBPD, chipprobetest

中图分类号:

TN407

唐彩彬. 基于ATE的USB PD快充协议芯片晶圆测试[J]. 电子与封装, 2022, 22(3): 030203 .

TANG Caibin. USB PDFast ChargingProtocol Chip Test Based on ATE[J]. Electronics & Packaging, 2022, 22(3): 030203 .

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中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

基于ATE的USB PD快充协议芯片晶圆测试

USB PDFast ChargingProtocol Chip Test Based on ATE

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