摘要: 对电子封装用硅铝合金焊接材料的裂纹产生机理进行简要的分析。针对其焊接后极易开裂的现象,通过对硅铝合金的激光焊接工艺参数和焊接结构进行优化,获得漏率R1小于5×10-9Pa·m3/s (He)的封装器件。气密性成品率高于95%,且通过按GJB548B-2005方法1010.1条件B的100次温循等可靠性试验。
中图分类号:
徐 骁,刘 艳,陈洁民,程 凯. 电子封装用硅铝合金激光气密焊接研究[J]. 电子与封装, 2016, 16(8):
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XU Xiao,LIU Yan,CHEN Jiemin,CHENG Kai. Research of Packaging-used Silumin Alloys in Hermetic Laser Welding[J]. Electronics & Packaging, 2016, 16(8):
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