摘要： 大部分的系统级芯片（SoC）具有异步信号，基于自动测试系统（ATE）很难实现稳定的测试。通过外挂Flash芯片对被测SoC器件进行功能配置，自动测试系统对相应的功能进行搜索匹配，可以在自动测试系统上对SoC的异步输出信号进行稳定的测试。
中图分类号:
石君, 张谦, 裴丹丹. 基于自动测试系统实现系统级芯片异步信号测试[J]. 电子与封装, 2020, 20(2):
020204 .
SHI Jun, ZHANG Qian, PEI Dandan. Asynchronous Signal Test of System on Chip Based on Auto-Test Equipment[J]. Electronics & Packaging, 2020, 20(2):
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