电子与封装 ›› 2022, Vol. 22 ›› Issue (12): 120203 . doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.1204
李海军;宗福春;胡增武;李云飞;彭文佳;齐 敬
LI Haijun, ZONG Fuchun, HU Zengwu, LI Yunfei, PENG Wenjia, QI Jing
摘要: 以热等静压方法成形的AlSi12、AlSi27、AlSi35、AlSi42、AlSi50、AlSi60、AlSi70、AlSi80系列的硅铝合金电子封装材料为研究对象,对Si含量对材料的金相组织、热物理性能、力学性能等的影响进行分析评估。结果发现,随着Si含量的增加,合金材料的密度、热导率、热膨胀系数(CTE)、断后伸长率降低,刚度、硬度提高;当Si的质量分数不大于60%时,随着Si含量的增加,材料强度提高,Si颗粒由点状或蠕虫状变为球状或片状,且分布均匀、独立。当Si的质量分数大于60%时,材料强度降低,Si颗粒逐渐连接成骨架基体。
中图分类号: