摘要: 反熔丝FPGA在生产阶段不能通过编程后测试对电路进行筛选,必须通过编程前测试来解决生产测试问题。在研究反熔丝型FPGA多标准可配置I/O端口电路结构的基础上,提出一种用于可配置I/O端口的可测性设计(DFT)方案,在可配置I/O端口中插入软配置电路和边界扫描链,实现对可配置端口的临时配置和扫描测试,覆盖所有支持的电平标准及各种可配置I/O功能。仿真及测试结果表明,该DFT能够满足反熔丝型FPGA多标准、可配置I/O端口的测试需求,能够解决可配置I/O在生产中的测试问题。
中图分类号:
曹振吉, 曹杨, 隽扬, 曹靓, 马金龙. 反熔丝FPGA可配置I/O端口可测性设计研究[J]. 电子与封装, 2023, 23(8):
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CAO Zhenji, CAO Yang, JUAN Yang, CAO Liang, MA Jinglong. Research on theDFT for ConfigurableI/OPorts of Antifuse FPGA[J]. Electronics & Packaging, 2023, 23(8):
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