基于FPGA 芯片的抗单粒子翻转的动态刷新技术研究

doi:10.16257/j.cnki.1681-1070.2019.1211

电子与封装 ›› 2019, Vol. 19 ›› Issue (12): 51 -54. doi: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2019.1211

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基于FPGA 芯片的抗单粒子翻转的动态刷新技术研究

何小飞¹，章慧彬²，徐玉婷¹，杨煜¹

1.无锡中微亿芯有限公司，江苏无锡　214072；2.中科芯集成电路有限公司，江苏无锡　214072

收稿日期:2019-10-08 出版日期:2019-12-20 发布日期:2019-12-24
作者简介:何小飞(1988—)，男，江苏泰兴人，硕士，工程师，从事集成电路设计工作，研究方向为千万门级FPGA设计。

Dynamic Scrubbing Research on Correcting Single-event Upsets in FPGA Chip

HE Xiaofei¹, ZHANG Huibing², XU Yuting¹, YANG Yu¹

1.East Technologies, inc. Wuxi 214035, China; 2. China Key System & Integrated Circuit Co., Ltd., Wuxi 214072, China

Received:2019-10-08 Online:2019-12-20 Published:2019-12-24

摘要/Abstract

摘要： 在分析FPGA空间单粒子效应的基础上，为了实现星载电子设备运行的稳定性，研究FPGA的动态刷新原理，介绍了几种抗单粒子翻转方法，根据位流文件设计出用于动态刷新的指令并通过实例验证。通过FPGA定期从PROM中读取用户配置信息，动态刷新内部配置信息，从而减少FPGA配置存储器发生单粒子翻转的概率，提高星载电子设备运行的可靠性。

关键词: FPGA, 动态刷新, 配置, 单粒子翻转

Abstract: On the analysis of single-event upset, proposes reliable dynamic reconfiguration method base on PROM, introduce several correcting single event upsets methods. Design the command depend on the bit stream and verify the command. The configuration information is read from the PROM to dynamic scrub the configuration memory in FPGA, thereby dynamic scrubbing can reduce the probability of single-event upsets and increase the reliability of the electronic equipment on the satellite.

Key words: FPGA, dynamic scrubbing, configuration, single-event upsets

中图分类号:

TN402

何小飞, 章慧彬, 徐玉婷, 杨煜. 基于FPGA 芯片的抗单粒子翻转的动态刷新技术研究[J]. 电子与封装, 2019, 19(12): 51 -54.

HE Xiaofei, ZHANG Huibing, XU Yuting, YANG Yu. Dynamic Scrubbing Research on Correcting Single-event Upsets in FPGA Chip[J]. Electronics & Packaging, 2019, 19(12): 51 -54.

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中国半导体行业协会封装分会会刊

中国电子学会电子制造与封装技术分会会刊

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